產品詳情
產品簡介：
SENSOFAR公司作為干涉共焦顯微鏡的，開創性地將共聚焦和干涉技術結合在一起，設計和制造了S NEOX系列的3D光學干涉共焦顯微鏡。無需插拔任何硬件就可以在軟件內自動實現共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換。使客戶無需花費高昂的費用就能同時擁有共聚焦顯微鏡和干涉儀。客戶即擁有共聚焦技術的超高XY軸分辨率，0.14um，又有干涉技術的亞納米級Z軸分辨率，可達0.1nm及高達0.1%的測量重復性。
SENSOFAR在1999年創立之初，就是以三維表面形貌測量為主要研發方向，通過持續不斷地研發和申請技術，在全球范圍內創造了數百種表面形貌測量應用產品，積累了最豐富的技術實力。
新型S NEOX主要技術優勢如下：
優勢1 第5代干涉共焦顯微鏡，更加精準易用
新型 S neox 是sensofar公司開發的第5代干涉共焦顯微鏡，在性能、功能、效率和設計方面遠遠優于現有的共聚焦顯微鏡或白光干涉儀。
第5代 S neox 系統的誕生，使得操作更易于使用、直觀且更快速。即使是初學者，只需點擊一下，即可操作測量，可快速切換共焦、白光干涉和相位差干涉測量模式，滿足從粗糙表面到平滑表面測量需求。
優勢2 的Microdisplay共焦技術，可實現掃描頭內無運動部件
SENSOFAR設計的Microdisplay共焦技術（微型程控顯示掃描共焦技術），做到了掃描頭內無運動部件，解決了共聚焦掃描一直以來的問題---有部件要高速運動，實現了既能高速掃描，又能避免部件運動造成震動影響精度。
優勢3 的掃描速度，數據采集速度高達 180幀/秒
新型 S neox作為第5代最新干涉共焦顯微鏡，通過采用新的智能和獨特的算法以及新型相機（500萬像素相機），達到的速度。數據采集速度達 180幀/秒。標準測量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成為市場上速度最快的表面測量系統。
優勢4 測量的可追溯性
每一臺 S neox 皆為提供準確和可追溯的測量而精心制造。系統使用符合ISO 25178 標準的可追溯標準進行校準，包括：縱向精度、橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。可一鍵實現ISO25178和ISO4287粗糙度測量，無需復雜的粗糙度參數設置。
優勢5 三合一的3D測量技術（共聚焦、干涉、多焦面疊加）
Sensofar 的三合一3D測量方法—只需點擊一次，系統即可切換到適合當前測量任務的技術。在 S neox 傳感器頭中配置三種3D測量技術：共聚焦測量、干涉測量、Ai 多焦面疊加測量，這些都為系統的多功能性做出了重要貢獻，并有助于最大限度地減少數據采集中的噪點。S neox 是所有實驗室環境的理想之選,適用范圍廣泛，適合粗糙，到光滑及超光滑表面3D測量。
優勢6 Sensofar最新的共焦技術：連續共聚焦掃描技術
針對一般共聚焦設備掃描速度慢的問題，Sensofar研發了世界技術的連續共聚焦掃描方式，即保證了掃描精度，提高了圖像支架，又將掃描速度提高了3倍。
優勢7 Sensofar最新的共焦技術：融合共聚焦測量
SENSOFAR還推出了獨特的融合共聚焦掃描模式，將共聚焦和多焦面疊加兩種模式的優勢結合，實現了可測最大86度的斜率并具有納米級Z軸精度的三維測量。融合共聚焦能提供更好的測量效果，獲取更好的圖像質量，同時可獲得比共聚焦和多焦面疊加更可靠的數據。
優勢8 智能噪音檢測—有效提高圖像質量，消除噪點
S neox 使用檢測算法(SND) 檢測那些不可靠的數據像素。與使用空間平均的其他技術相比，S neox 在不損失橫向分辨率的情況下逐像素處理。
優勢9 高性能軟件分析系統Senso View
Senso View是一種交互式分析工具，2D 和 3D 的交互式視圖提供多種縮放、顯示和渲染選項。提供一套全面的工具，用于 3D 或2D 測量的初步檢查和分析。可以測量關鍵尺寸、角度、距離、直徑，并使用新的注釋工具突出顯示特征。可實現剖面線上多段高度差測量；可測量剖面線多段高度信息，并實時顯示在剖面線測量圖上。
